95x100 CdTeピクセル検出器 (CdTe_10K)のツール

下図のflowchartのようになっています.詳細は,マニュアル(Procedure.pdf)をご覧ください.
以上のツールを使って最終的に以下のような検出結果を作成できます.
検出器の画像を組み合わせたDAC値像を構成しました.(147968,-32で80ステップ)

DAC値を減少した像とその差分像

DAC値像から作成したX線エネルギー像.(60.5keVから79.0keV)

X線エネルギーによる閾値像とその差分像
詳細は、前処理のための資料を参考にしてください。

回折斑点の追跡ツール

ひずみ測定などの処理のためには回折斑点の追跡を追跡する必要があります.
そのためのツールが spoty.f90 です.spoty.f90を使う前に必ず前処理(preprocess)が必要です.
以下の手続きで各エネルギーごとに回折斑点の追跡をします.
  1. P1, P2、閾値,エネルギー範囲などを入力
  2. 5x5画素で平滑化
  3. 閾値で二値化
  4. 斑点を抽出,斑点の接触の処理
  5. 格差エネルギーにおける各斑点の重み付き重心の位置,回折半径,密度,最大輝度と位置など
  6. 処理過程はImageJのマクロ spoty.ijm で可視化できます.
  7. 処理結果は Spot_List.dat に保存されます.
Soptyによる処理結果