本成果は，科学研究費補助金基盤研究(C) No. 17K06046, No. 20K04156の支援による．
2023年12月版
CdTeピクセル検出器 は，
閾値電圧を変化させることでＸ線エネルギーを識別することができる．その仕組みは，上図のように閾値電圧が-200 mVから-60 mVへと変化するに伴い，
Ｘ線の閾値エネルギーが低い方へ変化する計数型の検出器である．しかも，CdTeを利用しているので，高エネルギー領域に適している．
画素数は201×191ピクセル，ピクセルサイズ0.2 × 0.2 mm/pixel，計数時間は1 μsecから100 sの範囲である．
左の図は，SUS304の透過白色Ｘ線像をCdTeピクセル検出器で測定し，60keV から80 keVのエネルギー閾値像に処理したものである．
CdTeピクセル検出器ツール (検出面積95x100タイプのCdTe検出器はこちらのリンクへ)
基本的には，すべてCdTeピクセル検出器から閾値を変えながら出力される大量の [img_i.txt]群からはじまる．1フレームで1シーンの場合は，まだ単純であるが，m × n の多数のフレームで1シーンを作成している場合は，ファイル群の数は膨大になる．そのためにツールが必要となる．ツールの基本を理解するには，CdTeピクセル検出器の基本的事項を知る必要がある．そのための資料がCdTe_Tool.pdfである．
CdTeピクセル検出器を利用するための基本的ツールは以下の4つになる．
- 基本的のツール CdTeで閾値をシフトしながら作成されたデータファイル群[img_i.txt]からImageJのファイルを作成する
- CdTeピクセル検出器の エネルギー較正のためのツール
- エネルギー像 を作成するためのツール
- 白色Ｘ線による二重露光法(ひずみ測定)のためのツール
- ビームラインBL16XUで単色Ｘ線による二重露光法(ひずみ測定)のためのツール．回折計にCdTe PILATUS-300Kを搭載したケース．
- ビームラインBL14B1で単色Ｘ線による二重露光法(ひずみ測定)のためのツール．相互相関法で効率よくDEMの処理できます．
- 斑点の重心位置を求めるのためのツール．search_peakシステム
- BL19B2にて単色でDEMを実施するためのツール(斑点専用)
これらのツールは，右図のようにgfortran (.f90)，ImageJ のマクロ(.ijm)で構成されている．これらは，すべてMac OS 上で作動を確認しているが，windowsではgfortranのcall SYSTEM()がエラーになるので，そのステートメントを省いてコンパイルする．Mac OSの64bitに対応しているFijiを利用するのがよい．
リンクのプログラムは，すべてテキストファイル(UTF8, CR/LF)である．各自の環境に合わせてカスタマイズしてよい．
新潟大学 鈴木賢治
本成果は，科学研究費補助金基盤研究(C) No. 17K06046, No. 20K04156の支援によるものである．